Предложение: лаборатория Микроскопии в Самаре

Лаборатория Рентгеновской Дифрактометрии Электронной и Зондовой Микроскопии
(РДЭЗМ)

Наше оборудование поможет определить химический и фазовый состав, исследовать структуру поверхности материала, а также определить микротвердость по Мейеру и многое другое. Ниже можно ознакомиться о полных возможностях лаборатории.

Перечень оказываемых нашей лабораторией услуг:

Растровый электронный микроскоп JEOL-6390A
Основные технические характеристики микроскопа:
• Разрешение до 3 нм;
• Изображение во вторичных электронах;
• Изображение в отражённых электронах;
• Увеличение от 5х до 300 000х;
• Ускоряющее напряжение от 0,5 до 30 кВ;
• Максимальный размер образца до Ø 150 мм.
Приставка микрорентгеноспектрального анализа позволяет оценить химический состав материала, причем определяемые элементы лежат в достаточно широком диапазоне – от Bдо U. Анализ можно проводить локально (в точке или по ряду точек), по области (данные о содержании того или иного элемента усредняются по площади) и по непрерывной линии. Также возможно создание карт распределения элементов по поверхности изучаемой области образца.

Дифрактометр ARL X’TRA
Порошковый рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA обладает широкими аналитическими возможностями:
• Анализ твердых, жидких и порошковых материалов.
• Обнаружение и идентификация фаз с объемной долей свыше 0,1%
• Возможность локального анализа области диаметром 1 мм
• Определение фазового состава
• Количественное определение известных фаз в смеси
• Определение и уточнение структуры кристаллов
• Проведение анализа при различных температурах (25 – 1500 °C) в вакууме
• Анализ поверхности и тонких пленок
• Анализ текстуры и микронапряжений

Наноиндентор Agilent G200
Основные возможности:
• определение микротвердости по Мейеру;
• определение модуля Юнга;
• выявление зависимости свойств от глубины в высокоградиентных материалах;
• определение положения границ и раздельное определение свойств материала пленки и субстрата в тонкопленочных структурах без приготовления поперечного шлифа и стравливания поверхности;
• определение адгезионной прочности пленочных покрытий (скретч тест);
• оценка контактной, усталостной и абразивной износостойкости.
Система NanoIndenter G200 полностью соответствует стандарту ИСО 14577 частям 1, 2 и 3.